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A2-208号室

中條研の研究設備 > A2-208号室

SEM(走査型電子顕微鏡) JSM-5600

電子顕微鏡の一種で、電子線を絞って電子ビームとして対象対象に照射し、対象物から放出される二次電子を検出する事で対象を観察できます。

XRD(粉末X線回折装置) MiniFlex

物質の表面にX線をあてて反射した回折X線を測定する装置です。回折X線の測定によって物質の結晶状態やナノ粒子の平均粒径を知ることができます。

AFM(走査型プローブ顕微鏡) SPA-400

先端の鋭いカンチレバーを用いて、試料表面をなぞったり、試料表面と一定の間隔を保ってトレースすることで試料表面形状の観察を行なうことができます。

TEM(透過型電子顕微鏡) JEM-1025

これも電子顕微鏡の一種です。観察対象に電子線をあて、それを透過してきた電子を拡大して観察する電子顕微鏡です。

LC-MS(液体クロマトグラフ質量分析計) LCMS-2010EV

HPLCの検出器としてESI-MSを用いたものです。ESI法はソフトなイオン化であるため広範な化合物の検出に用いることができます。

XRF(走査型蛍光X線分析装置) Primini

試料にX線を照射すると、元素に固有の蛍光X線が発生します。 この固有エネルギーのX線によって元素が識別でき、さらに強度が元素濃度に比例します。これを利用して元素の濃度分析や含有量の分析を行うことができます。

EDX(エネルギー分散形X線分析装置) JED-2300

蛍光X線分析装置を走査型電子顕微鏡と組み合わせることにより元素分布のイメージングを行う装置です。

単結晶自動X線構造解析装置 R-AXIS RAPID-F (共通機器)

X線ビームを単結晶に照射し、回折するX線の方向とその強度を測定し、その測定データを解析して結晶構造を決定する装置です。

旋光度計

物質の旋光度を測定することで、測定した物質が光学活性か持つかを判断します。

CD(円二色性分散計)

試料溶液に円偏光を透過させ、吸光度の変化を測定します。これにより物質の持つ不斉について評価します。

CPL(円偏光発光光度計)

光学活性分子から発せられる右円偏光と左円偏光の発光強度の違いを測定します。